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3mm微波器件与电路在片综合测试系统

2014年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
课题以倍频和混频为基础,以现有的HP8510C为平台实现3毫米波段的幅度和相位测试、集成I-V和C-V测试,研制3毫米波综合测试系统;在此基础上解决直流馈电、在片系统构建、在片校准等问题,实现了3毫米波段的在片综合测试;在软件商解决毫米波的系统控制、校准、数据采集和处理,并在此基础上进行器件在3毫米波段的模型建立。为解决3毫米波段MMIC电路的设计提供依据。...
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