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GM-Ⅱ型液晶盒间隙厚度测量仪

1999年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
GM-Ⅱ型液晶盒间隙厚度测量仪利用计算机图像信号处理和同新科技和两项专利技术，攻克激光光楔定标、彩色干涉条纹级次的自动识别等技术难关，使测量不准确度达到±0.05um，测量光班小到1mm，而且自动化程度高，测量速度快，能对280mm×220mm的大面积器件进行全自动多点测量，达到九十年代世界先进水平，满足了国内液晶行业的要求，为高品质液晶器件的研制提供了有力的支持和可靠的保证。
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