首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

半导体照明LED芯片批生产分检系统

2009年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
LED最重要的性能指标就是光学特性和电气特性。光学特性包括光通量、光分布、亮度、光谱分布、色度坐标、显色指数等。近年来国内外各大半导体设备公司推出了各种测量综合分析系统，但其分选效率、速度、准确性还远远不能满足大批量生产的需求。各生产厂家都急迫需求能一次快速测试光电参数并能分检系统，市场上出现的进口的综合分检系统由于技术含量高，价格十分昂贵，国内LED生产企业大部分还没有装备该系统。在这个...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统