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荧光余辉测量装置

2004年 应用技术
  • 成果简介
该荧光余辉测量装置包括：激发光源、控制样品曝光的曝光控制装置、用于曝光和测量的暗箱。其在暗箱上安装有样品座，在暗箱内设有接收样品余辉光信号的余辉探测器，余辉探测器的输出端与测量仪表相连。工作时，在曝光控制装置的控制下，样品受到激发光源辐照曝光；曝光结束，样品将不断释放荧光即余辉，由余辉探测器接收余辉，并将余辉光信号转换成电信号输入测量仪表，在仪表显示余辉亮度和余辉时间参数值。该荧光余辉测量装置结构...
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