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熔融法X射线荧光光谱测定滑石中主、次元素

1998年 应用技术
  • 成果简介
　　该成果应用X射线荧光光谱仪，通过测量荧光射线的波长和强度对滑石试样进行定量分析。该方法采用SRS303自带浓度Ⅰ校正模式进行基体校正，γ－校正程序确定被测元素间相互影响的主次关系，达到吸收校正，消除了元素的相互干扰，使分析的准确度、精密度与化学法相当。该方法大胆探索，选用不同类型滑石和国家级滑石标样，加入少量矾土标样和高纯二氧化硅合成为校准标样，扩大了分析范围，拓宽了荧光光谱仪应用领域。...
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