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预报集成电路静电放电失效的测试电路及预测方法

2016年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
  本发明公开了一种预报集成电路静电放电失效的测试电路及预测方法。其利用失效测试电容(8,9)在ESD应力作用下的退化衡量集成电路中MOS器件在ESD应力下的衰退;利用二极管(3,4)组成的静电放电应力耦合电路将ESD保护电路未泻放掉的ESD应力耦合到失效测试电容(8,9)上;同时,应力及延迟控制器电路检测到ESD应力后产生控制信号并传输给应力控制电路(12),开启由二极管(5,6),开关电路(1...
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