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数字集成电路故障片上检测技术研究与应用

2016年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
　　在集成电路（IC）芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高的大趋势下，为尽量减少芯片制造中产生的故障导致的信息系统失效、造成经济损失甚至灾难性后果，对芯片故障的快速可靠精确检测需求越来越高。故障的片上检测技术通过在数字电路芯片内部设计检测装置，即可用于支持故障的在线检测，确保芯片整个生命周期的可靠性，又可用于提高故障的可检测性、为通过外部测试仪实施的生产测试提供有效的测试访问机制，提高...
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