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平板裂缝天线裂缝精密测量方法

2015年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
本发明涉及一种光学测量设备，特别是一种平板裂缝天线裂缝精密测量方法，它至少包括图像提取装置，对图像提取装置提供的信息进行处理的计算单元，其特征是：A、初始化：
1)建立数字图像象素与实际尺寸的对应关系；
2)提取平板裂缝天线的图像信息；
3)提取图像裂缝边缘信息；
4)进行边缘点亚像素处理；
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