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一种芯片的可测试性设计方法

2017年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
　　本发明涉及一种芯片的可测试性设计方法，包括以下步骤：
　　1、存储器内建自测试电路的插入：
　　2、边界扫描电路的插入：
　　3、可测试性电路综合：
　　4、扫描链电路的插入；
　　5、自动测试生成向量的产生。
　　为了解决现有的芯片设计过程中针对不同的测试对象的测试方法没有一套完整系统的方法，DFT工具、逻辑综合工具、电...
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