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化合物半导体产品制造过程中的工艺验证方法

2017年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
  本发明提供了一种化合物半导体产品制造过程中的工艺验证方法,该方法中,先确定关键工序及关键工序的制程参数,再在关键工序上实时采集预设批次在制品的第一制程参数,如果根据第一制程参数判定工艺水平不达标,则控制生产机台停机,工程师进行工艺调整后生产机台继续生产,然后再次在关键工序上实时采集预设批次在制品的第二制程参数,最后对第一制程参数和第二制程参数进行显著性水平为0.05的t检验得到t检验统计量,如...
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