首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

一种提高平面面形子孔径拼接检测精度的方法

2017年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　一种提高平面面形子孔径拼接检测精度的方法，首先对待测平面光学元件进行子孔径拼接干涉测量，得到子孔径面形数据，直接拼接得到全口径面形；其次过参考镜中心对全口径面形横向采样，计算得到拼接累积误差，然后根据本发明提出的方法计算参考镜离焦；最后在子孔径测量结果中去除计算得到的离焦面形，再拼接得到去离焦后的全口径面形。本发明能够准确标定参考镜离焦，消除累积误差，提高拼接精度，并且不需要增加额外的辅助部件...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统