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偏光应力仪检定标准装置及光强极小值定位方法

2013年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
本发明所基于的测试原理是，在优化1/4波片法及半影法的基础上，又提出了光电模拟多个半影法；根据上述原理制成的偏光应力仪检定标准装置，通过所建立的光学件转动时光强和转动角度的数学模型，以及采用最小二乘法对测试的光强数据进行拟合的处理方法，就可按照本发明提出的调试与测试步骤，找出与之对应的光学件在光强极小值时的位置角度，并通过计算机控制使该光学件定位于此，最终求出被测光学样品的应力双折射光程差...
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