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ICL-225/1板状结构层析扫描装置

2012年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

　　ICL-225/1板状结构层析扫描装置是对金属及非金属物质进行无损检测和无损评价的重要检测手段。通过显微射线数字成像技术(显微DR技术)和计算机分层层析技术能清晰、直观、准确地再现被透照器件内部的结构，如缺陷的位置及尺寸、密度的变化，异型结构的形状及弧度，物体内部的杂质及分布等。应用于高密度大规模集成电路（IC）、多层印刷电路板（PCB）、球栅阵列（BGA）、集成芯片等电子产品中的无损检测。 ...

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