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一种评估钨酸铅晶体的抗辐照性能的检测方法

2012年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
本发明涉及一种评估钨酸铅晶体的抗辐照性能的检测方法,本发明利用PWO晶体在特定γ射线辐照剂量下与紫外线辐照下的辐照诱导吸收系数之间的线性关系,通过紫外线辐照晶体结果直接估算该晶体在γ射线辐照后的辐照诱导系数,从而对PWO晶体的抗γ射线辐照性能进行快速评估。本发明提供的方法采用简便、安全的紫外线辐照来模拟γ射线辐照效果,大大简化了PWO晶体抗辐照性能的检测过程。...
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