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泰伯效应光栅无损检测技术

2006年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
本项目完成的新型光栅检测技术,有重要的应用前景。特别值得指出的是,通过本项目的支持,上海光机所信息光学实验室已经建立了可进行高水平光栅研发与检测的实验室,取得了一系列重要的进展,申请了18项专利技术,相应的一些列研究结果在国际一流刊物上发表。特别是本项目采用的泰伯效应技术的无损检测技术,通过长期、细致的研究,论文在国际刊物JOSAA2005年12期上发表,这个技术已经申请专利,利用所突破的...
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