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一种易受潮变性晶体薄膜的透射电子显微镜样品制备方法

2007年 应用技术
  • 成果简介
　　专利号:ZL02121108.6
　　一种易受潮变性晶体薄膜的透射电子显微镜样品制备方法，该方法的实施步骤是首先在NaCl晶体基片上镀一层薄碳膜，再用真空热蒸镀的方法在碳膜上外延生长出所要检测的晶体薄膜，之后在晶体薄膜外表面镀一层碳膜，制成三明治膜系；将其取出放入盛水的容器中，使三明治膜系向上，然后将其迅速捞取并立即放入真空室内快速烘干，即可制得所需的晶体薄膜的透射电子显微镜样品...
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