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AF/PSTM型纳米分辨多功能光学显微镜

2007年 应用技术
  • 成果简介
  一、产品和技术简介:
  国内外首创AF/PSTM型纳米分辨多功能光学显微镜,已获中国发明专利两项(专利号为:ZL96 111979.9和ZL93 104111.2,后者已申请有优先权的日本国发明专利,申请号为:95512/94)。该仪器突破了光子扫描隧道显微镜(PSTM)存在假象和不能分解样品的光学与形貌图像两大难题,可在一次扫描过程中同时获得样品的两幅PSTM光学图像(折射率图...
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