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WFX-IF型原子吸收分光光度计

2005年 应用技术
  • 成果简介
该仪器采用了国内外近几年发展起来的自吸效应背景校正技术,可在整个光谱区域校正高达2A的背景吸收。仪器内置放一台自行设计的功能较强的专用微机系统(CPU为6502、ROM40K、RAM16K),可使用火焰、氧化物发生器、高温石炉原子化器和进行火焰发射分析。1985年10月在北京通过机械工业部鉴定,为中国第一台带CRT专用微机系统,应用自吸效应的新型仪器,主要性能指标达到国际八十年代初同类仪器的水平。...
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