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智能综合测试仪

2002年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
智能综合测试仪由微处理器控制，完成A/D转换，数据处理，自动实现功能转换、自动切换测量量程及测量数据的实时显示等功能。在电路设计中采用目前国内外先进的集成芯片，各功能电路均为模块式，由一片微处理器控制整机工作，电路集成度高、结构简单、控制关系明了，故障率低。面板上除电源/功能转换开关、复位开关外，无任何调节旋钮，且具有故障自诊断功能，故其可维护性强。
该测试仪具有集成度...
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