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陶瓷原料成分快速检测方法

2005年 应用技术
  • 成果简介
该成果采用当今世界先进的分析技术，对陶瓷原料的化学成分、矿物组成和颗粒分布进行了快速检测。X射线荧光波谱分析技术对陶瓷原料化学成分的分析精度为：SiO_2≤0.5％，Al_2O_3≤0.5％，Fe_2O_3≤0.05％，Na_2O≤0.1％，K_2O≤0.1％。单个样品的分析可在2小时内完成；采用先进的制样和熔样设备，每个工作日最多可分析50个样品，与传统的手工分析相比，大大提高了分析速度，降低了...
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