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微器件的X射线检测仪器

2004年 应用技术
  • 成果简介
该项目拟开发的X射线仪器，适用于电子和机械微器件以及贵金属装饰品的质量检测。该仪器能够对器件的各个微小区域进行非破坏性的定量分析，包括化学组成、镀层厚度、晶体结构和机械结构等，在微电子器件、电子即插件、钟表以及装饰品等制造业和各级质量技术监督部门中有着广阔的市场前景。目前，中国使用的这类仪器主要依赖进口，每台售价30-80万元。 该项目的目标是在(专利ZL94112117.8 ZL9723539...
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