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内置自测试自动综合技术的研究

2003年 基础理论
  • 成果简介
“内置自测试自动综合技术的研究”是国家自然科学基金资助课题(编号:69976002)。
  本项目主要研究VLSI的内置自测试(BIST)设计方法,主要成果分四个方面:
(1)在VLSI自测试设计的研究方面,提出了并行反馈BIST方案及相应的分析和设计方法,状态迁移图的拓朴结构分析和实验研究均证实其优越性,可用于解决超高速电路的自测试问题;
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