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晶体生长高精度控温系统

1998年 应用技术
  • 成果简介
该成果研究控温精度为0.01℃晶体生长计算机多路温度控制。该系统由SID总线工控机和外围接口电路组成。外围电路包括微弱温度信号变换、调理、传送和可控硅触发驱动电路等。软件系统分为链盘管理和智能控制两部分。FIC-20晶体生长控温器主要技术指标：失温范围25-70℃，控温精度0.01℃，控制路数4-20，信号传送距离30米。最显著特点为控温精度高，控制路数多，信号传送距离长以及小信号调理技术、智能控...
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