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全桥半桥通用恒流老化板

2012年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
一、课题来源与背景
在现有技术中，老化测试环节在电子产品质量探制甲是一个非常重要的环节，是电子产品可靠性的重要保证。桥堆在老化后可以提升效能，并有助于后期使用的效能稳定。但是目前的老化板均为全桥恒流老化板，全桥整流器其内部有4个整流管，恒流源可以直接流过芯片进行老化测试。而半桥整流器内部只有2个整流管，那么若要对半桥整流器中的2个整流管做恒流老化测试(即通入恒定正向电流...
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