国家科技成果网
热门搜索:  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

国家科技成果网 首页 成果 查看内容

CCD挠度测量系统

2007年 应用技术
  • 成果简介
  内容简介及主要技术指标(含与国内外同行水平对比):
  CCD挠度测量系统用于实施监测大型桁架结构的挠度。利用激光束的直线性作为挠度测量的基准,激光束照射在CCD器件上的光点位置的变化即反映挠度变化。激光源和CCD接收单元的空间位置关系可通过操作界面进行预置,通过光点位置可直接计算桁架结构的变形状况。本系统还有存储、查看、分析历史记录的功能。
  主要技术指标
相关成果

标签云

相关机构

Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位:科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统