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剪切干涉仪

2007年 应用技术
  • 成果简介
基于平板剪切干涉原理，采用一块具有一定厚度并带有微量楔角的高质量光学平板将一个具有空间相干性的波面分裂为两个完全相同的波面，并且使这两个波面彼此相对错位；因为波面上各点是彼此相干的，因此在这两个波面的重叠区将产生干涉。
剪切平板楔角方向与剪切方向垂直。如果被检光束完全平行，则干涉条纹平行于剪切方向；如果被检光束会聚或发散，则条纹将发生旋转。
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