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保偏光纤分布式偏振耦合测试仪

2001年 应用技术
  • 成果简介
项目研究的背景及用途
保偏光纤在研制过程中，由于光纤内部产生的结构缺陷会造成保偏性能的下降，即当线偏振光沿光纤的一个特征轴传输时，部分光信号会耦合进入另一个与之垂直的特征轴，最终造成出射偏振光信号偏振消光比的下降，影响光纤传感器检测的精度和可靠性。采用本仪器可用来检测保偏光纤内部缺陷造成的寄生偏振模式耦合，校正光纤传感器的系统误差。因此，该项研究不仅可用于工业、民用建筑...
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