国家科技成果网
热门搜索:  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

国家科技成果网 首页 成果 查看内容

基于多目标进化算法的内建自测试(BIST)优化设计技术研究

2016年 基础理论
  • 成果简介
  内建自测试(built-in self-test,BIST)技术是解决高密集成电路测试问题的常见方法,面临着测试时间、测试功耗、矢量长度、故障覆盖率、硬件占用等诸多因素的相互制约。首先,基于多目标遗传算法和加权CA(cellular automata,细胞自动机)测试生成结构进行BIST优化设计,测试对象是ISCAS’85基准电路。验证结果表明,CA结构可以作为BIST较为理想的加权测试生成器...
相关成果

标签云

相关机构

Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位:科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统