首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

光学表面残差频域及亚表面损伤表征及修正理论与制造技术研究

2015年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
现代高分辨率、超分辨率成像光学系统以及高能激光系统对其核心元件质量提出苛刻要求，除要求表面面形残余误差峰谷值和均方根值外，还要求其残余误差各频域分布以及亚表面损伤程度满足特定的需求，以保证成像的质量和提高光学元件的损伤阈值。但是，目前国内兴起的数控计算机表面成形技术对于制造具有高质量表面尚具有一定难度，在此基础上提出的全频段残余误差控制以及亚表面损伤控制更是一个新的难题和挑战。
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统