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一种集成电路的测试图形生成器及其测试方法

2017年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
　　本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种集成电路的低功耗测试图形生成器及其测试方法。该集成电路的低功耗测试图形生成器基于可重构Johnson计数器，与传统的测试图形生成器相比，所生成的测试序列可在空间域和时间域同时减少测试图形转换次数，在空间域测试图形生成频率低，在时间域对每条扫描链生成不相同的单输入变化序列，从而大大降低被测集成电路的组合逻辑电路部分的功耗和扫描链的扫描功耗。...
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