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一种用于测量贴片晶片晶体电参数的治具

2017年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　在贴片晶体生产领域，生产过程需要对封装完的产品进行抽查测试电参数，目前市场上没有一种测试夹具适用于这种微小贴片晶体。 本发明的目的是要提供一种用于测量贴片晶体电参数的治具。
　　本发明的技术方案：一种用于测量贴片晶体电参数的治具，其特征是在测试治具底座上装有限位块；测试手柄的孔内上有导向轴，导向轴下有测试压紧弹簧，测试手柄的底座卡装在导向座上，测试手柄的下端有测试针。 在贴片...
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