首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

晶圆测试用双头单动探针

2017年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　本项目研发的晶圆测试用双头单动探针，是一款用于苹果手机NAND－Type Flash Memory的晶圆检测用探针。优质的选材，合理的结构设计，高品质的生产加工工艺，确保了产品的高性能和高稳定性。探针工作行程0.7mm，弹簧压力7gf，阻抗稳定在500 mΩ以下，机
　　械寿命可以达到100万回。满足了客户对微间距高性能产品的需求。晶圆测试用双头单动探针，优选进口铍铜等为材质，并采...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统