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抗多位翻转存储器加固技术研究

2015年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
①课题来源与背景：
随着集成电路特征尺寸的不断降低，在辐射环境下存储器发生多位翻转的几率增加，研究高可靠性、低开销的存储器抗多位翻转加固技术不但具有很高的学术价值，而且对于航天事业的发展具有重要的战略意义。
②技术原理及性能指标：
十进制码—将存储器的数据信息写成矩阵的形式，每行采用十进制探测码探测错误，每列使用二进制纠正码纠正错...
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