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一种薄膜残余应力测量方法

2014年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
本发明公开了一种薄膜残余应力测量方法,将任意形状的测试平板1通过任意形状和位置的支撑锚点2悬置于基底3上,牺牲层4填充在测试平板1和基底3之间,测试平板1的厚度以及支撑锚点2的高度均与待测应力的器件一致。测试时,将包含待测应力的器件和薄膜残余应力测量结构6的样品置于腐蚀液7内,当测试平板1的自由端悬置长度δ达到某一临界值时,其悬置部分将出现瞬间的屈曲变形,记录下该时刻的δ值以及屈曲变形模态...
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