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材料微尺度力学测量技术与设备

2013年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
主要技术指标:
1)对于光学显微镜下的数字图像相关测量技术,畸变修正后的像素误差的均方值小于0.01像素,在对1X1mm2区域测量时,面内位移测量精度优于0.05um,离面位移测量精度优于0.5um。
2)已申请五项专利,授权一项实用新型专利和一项软件著作权。
发明专利两项:
用于高信噪比散斑干涉的实时相移方法...
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