首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

缺氧缺血性脑损伤磁共振功能成像评价

2013年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
新生儿缺氧缺血性脑损伤（hipoxic ischemic brain damage，HIBD）由新生儿围产期窒息引起，是引起新生儿致病的重要原因之一，其病理生理学过程、正常婴幼儿时期脑发育特点、磁场对大脑细胞的影响各家观点不一。
本研究目的是通过动物模型和临床研究评价HIBD磁共振功能成像的价值。项目来自卫生厅创新人才工程基金和科技厅重点攻关。通过正常新生鼠、缺氧新生鼠...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统