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彩色条纹编码的相位去包裹新方法

2012年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
所申请发明专利“彩色条纹编码的相位去包裹新方法“属光电式非接触测量领域，主要用于光学相移法三维形貌检测的相位去包裹过程。与传统的相位去包裹方法相比，具有以下特点：
1、采用与测量过程相似的步骤及简便的图像处理算法，使操作简化并大大提高了数据处理效率，缩短了数据处理时间；
2、相位去包裹中采用了彩色二进制编码技术，减少了周围干扰光源的影响，提高了图像处...
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