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光学元件内应力、双折射和光学波片相位延迟测量的新原理和仪器

2011年 应用技术
  • 成果简介
　　光学材料和元件内都有残存内应力，影响光学系统的质量。光学波片也是基本光学元件，应用于光通信等领域。多年来，测量它们的常用方法重复性不高于1%，测量仪器自身系统误差无法扣除，各种测量方法不能统一。项目组走原理发明的路，提出的基本原理是“光学元件的相位延迟正比于激光器输出的频率差”。其反运用了激光器频率分裂效应，把传统的直接相位的测量变成了激光器频率差的测量，获得了极高分辨率和精度，测量不确定度优...
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