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基于测试向量不确定位优化填充的低功耗测试技术

2011年 基础理论
  • 成果简介
　　针对目前工业界广泛采用的扫描测试方案的高功耗可能带来的可靠性以及对芯片产量影响的问题，填充测试向量中的不确定位可以通过不需任何额外设计或硬件开销的方案对测试功耗及其带来的相关问题进行优化及解决。然而，目前已有的基于填充不确定位的低功耗测试技术方案通常只对测试过程中的捕获或者移位功耗的一方面进行优化，而无法对捕获及移位功耗同时进行优化。在国际上，2007年美国University of Iowa...
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