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微区XRF2000 型镀层测厚仪

2010年

应用技术

成果简介

　　中国科学院上海应用物理研究所凝聚其40多年从事X射线荧光(XRF)技术研究的经验，结合其近年来在微区分析领域取得的国际领先地位，研制成功XRF系列微区镀层测厚仪，深受用户好评。
　　1、应用领域：微区XRF镀层测厚仪是一种比较先进而实用的质量检验仪器，适合于电子元件，精密机械，钟表眼镜，制笔工艺，珠宝首饰等行业推广使用。
　　2、技术指标：金属镀层检出限：0.01μm，...

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