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晶圆失效图样检索系统[简称; Failure Pattern Analysis]V1.0

2011年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

软件采用VC2005/2008进行编程，代码实现效率高，适用于半导体制程中基于电气参数测试数据失效图样的快速检索定位分析，软件作为辅助进行半导体成品率管理的工具，具有以下特点：
1. 采用了先进的数据挖掘技术，能够快速定位异常数据；
2. 利用先进低分辨率图像检索技术，定位与采样图样的类别；
3. 采用基于区域的综合距离匹配机制，...

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