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板级芯片自动化测试软件系统

2010年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

该课题依托国家创新基金“板级芯片自动化测试软件系统”项目，主要研发和产业化完全自主知识产权的自动化的集成电路测试、电路板测试软件系统。该项目产生的背景是为了解决现有芯片和板极测试中采用的线路检测设备(ICT)技术、边界扫描(BSD)技术、内建自测试(BIST)等技术存在的描述各异、测试周期长、测试重叠、测试硬件不可重用等问题。
该产品的技术原理是利用ICD、BSD、BI...

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