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系统芯片SoC自测试方法研究

2009年 基础理论
  • 成果简介
该项目针对SoC芯核测试依赖于昂贵的ATE导致测试成本高的问题,采用可测性设计中内建自测试方法来实现对芯核的测试,提出了一系列的折叠计数器重新播种方法;针对测试数据量庞大、测试通道带宽有限以及BIST方法对每个芯核集成测试器的硬件开销问题,采用测试资源优化方法,提出了一系列的测试数据编码压缩方法和LFSR重新播种方法;针对SoC测试功耗问题,提出了数字芯核的并行外壳设计、基于测试向量的静态...
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