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集成电路测试方法与技术

2008年

应用技术

成果简介

该成果适应集成电路发展的需要，跟踪国际先进的集成电路测试方法与技术，并结合国内实际情况，提供可应用的新的测试方法、技术和软件。主要内容：
1．大型复杂数字电路的测试产生系统，能处理5000门左右的数字电路，故障覆盖率达90%以上。
2．临界路径跟踪测试产生和平行码临界路径跟踪故障模拟的实验系统，其故障覆盖率达98%。
3．对时延...

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