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一种测试单板电容的方法

2005年 应用技术
  • 成果简介
本发明提出了一种测试单板电容的方法包括：进行相位调整，调整激励2的相位，使测试仪的两个激励的相位保持同步；加载被测对象后进行测量，反复调整电容，直到输出电压足够小，计算最终调整后的电容值即为测得结果；测量系统的电容和系统电阻；将测量结果减去系统电容即为最终需要得到的电容值。采用本发明所述方法，在不增加成本的前提下把测量电容的边界往小的方向挪了一大步，且精度也提高了一大步，现在可以达到10p...
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