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一种测试交换芯片及相关高速链路的方法

2004年 应用技术
  • 成果简介
本发明公开了一种测试交换芯片及相关高速链路的方法，应用于内部的自测试模块不能长时间连续进行自测试的交换芯片，包括以下步骤：启动交换芯片内部的自测试模块进行自测试；间隔所述交换芯片规定的测试时间，判断本次自测试是否出错，如果出错，将错误次数和测试次数加1，并重新启动自测试，否则，只将测试次数加1，反复进行以上步骤，并在测试达到预定次数时报告一次测试次数和错误次数的统计信息。本发明方法在交换芯...
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