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X射线荧光(XRF)微区镀层测厚仪

2007年 应用技术
  • 成果简介
当一束激励X射线照射到样品上,镀层和基底中的元素都放射出特征荧光X射线(XRF)。镀层荧光X射线的强度随镀层厚度而增加;基底荧光X射线的强度随镀层厚度而降低。根据这类关系,测定荧光X射线的强度,便可以计算出镀层的厚度。普通XRF仪器的照射区域比较大,不适用于精微细小、形状复杂的样品。微区XRF仪器将微束X射线集中照射在很小的区域内(专利ZL 94 1 12117.8),采用激光定位技术(专...
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