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半导体器件快速筛选技术

2007年 应用技术
  • 成果简介
　　为保证电子系统或整机的可靠性，常常要对半导体器件进行十几小时至几十小时乃至几百小时的全功率电老化，这种筛选技术的要点是，对被筛选器件在短时间(数秒至几十分钟)内施加功率，借助于检测热敏参数在施加功率前后的变化，按设定的数据淘汰不良品。理论分析与实验表明，该法可以取代传统的电老化，从而大大降低成本，提高效率。
　　实施条件：本技术适应于双极型大、中、小功率晶体管，二极管，三极管集成稳...
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