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一种X或γ辐射成像检测方法与装置

2007年 应用技术
  • 成果简介
　　专利号：ZL01131097.9
　　本发明涉及一种X或γ辐射成像检测方法与装置，属于核技术应用领域，包括射线源、前准直器、拖动机构，其特征在于：在射线源与被检客体间设置有带格栅形准直器的背散射阵列探测装置及其信号采集与处理系统，该背散射阵列探测装置的各探测器元分别探测来自客体上射线作用区内不同部位的背散射。还包括在被检客体的后面设置透射阵列探测装置及其信号采集与处理系统...
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