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检测自由电子激光光强密度的设备及方法

2005年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
  本发明公开了一种关于检测自由电子激光光强密度的设备及方法,该设备包括:自由电子激光器(FEL)﹑KBr分束片﹑能量辐射计及处理能量辐射计输出信号的计算机。该设备是用于测量窄禁带半导体材料的透射率,该方法是基于窄禁带半导体材料的透射率相对于FEL入射光强密度的固定关系来标定被测FEL光强密度。本发明的最大优点是:整个测量过程大大简化,避免了光斑面积和脉冲半宽度测量所带来的不精确性,使获得的测量结...
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